SEM3100是一款性能優良的鎢燈絲掃描電子顯微鏡。本型號電鏡可快速更換燈絲，使用維護更便捷。標配超大尺寸樣品倉，最大可支持樣品直徑370 mm，高68 mm，可在20至300,000倍下觀察樣品，最高分辨率可達3 nm，使用場景更為廣泛。SEM3100具有穩定的成像效果，其模塊化的結構設計易于維護及保養，多種探測器可供選配，可滿足不同場景的應用需求。