HCP621G-PM可單獨使用，也可搭配顯微鏡/光譜儀使用。其可在 -190℃ ~ 600℃ 范圍內(nèi)控溫，同時允許探針電測試、光學(xué)觀察和樣品氣體環(huán)境控制。探針臺上蓋與底殼構(gòu)成一個氣密腔，可往內(nèi)充入氮氣等保護氣體，來防止樣品在負溫下結(jié)霜，或高溫下氧化。此外另有真空腔型號HCP421V-PM提供。