CIF透射電鏡（TEM）樣品桿清洗機采用雙等離子清洗源設計，自動切換，一機多用，清洗快速高效、低等離子體轟擊損傷，同時可實現常規等離子清洗。核心部件采用國際一流品牌，保證設備優異的質量和穩定性。主要用于TEM透射電鏡樣品桿的等離子體清洗和真空檢漏用途。