塞貝克系數(shù)/電阻測(cè)量系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)對(duì)金屬或半導(dǎo)體材料的熱電性能的評(píng)估。作為ZEM的特點(diǎn)，塞貝克系數(shù)和電阻都可以用一種儀器來(lái)測(cè)量。

ZEM-3擁有溫度精確控制的紅外金面加熱爐和控制溫差的微型加熱器；測(cè)量是由計(jì)算機(jī)控制的，并且能夠在指定的溫度下執(zhí)行測(cè)量，并允許自動(dòng)測(cè)量消除背底電動(dòng)勢(shì)；歐姆接觸自動(dòng)檢測(cè)功能；可以用獨(dú)創(chuàng)的適配器來(lái)測(cè)量薄膜；可定制高阻型。

ZEM-3應(yīng)用方向：對(duì)于半導(dǎo)體，陶瓷材料，金屬材料等多種材料的熱電性能分析。

ZEM-3可選功能：1. 薄膜測(cè)量選件；2.低溫選件（溫度范圍-100℃到200℃）；3.高阻選件（最高到10MΩ）。