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BEIJING PEAK SCIENCE TECHNOLOGY CO., LTD.

NO：K26

ADD：北京市海淀區雙清路1號院內長興樓2層205室

專利的納米探針制作技術，探針間距可小于500nm, 能對微納器件和薄膜的電學參數進行精密測試。并可與光學顯微鏡和SEM兼容進行測試。

多種規格的陣列納米探針可選。

集成XYZ精密調節臺。

可集成源表及軟件進行表面電阻，CV，IV測試。

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