蔡司Xradia CrystalCT作為首款實(shí)現(xiàn)無(wú)損衍射襯度斷層掃描（DCT）成像功能的微米CT系統(tǒng)，能同時(shí)獲得樣品的三維晶體學(xué)信息和基于吸收襯度的高分辨率三維成像數(shù)據(jù)，可為工業(yè)和科研實(shí)驗(yàn)室實(shí)現(xiàn)各種金屬和合金、增材制造、陶瓷和藥物樣品等多晶材料的三維晶體學(xué)成像提供解決方案。

通過(guò)最新的高級(jí)數(shù)據(jù)采集模式，Xradia CrystalCT可實(shí)現(xiàn)大樣品體區(qū)域的無(wú)縫數(shù)據(jù)采集，提高了采集速度和減少了樣品準(zhǔn)備時(shí)間。與傳統(tǒng)的破壞性三維晶體學(xué)成像方法相比，大體積的無(wú)損晶粒成像大幅提高了實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)體的代表性。