美國easyXAFS公司最新推出臺式X射線吸收精細結構譜儀（XAFS/XES），采用獨有的X射線單色器設計，無需同步輻射光源，在常規實驗室環境中實現X射線吸收精細結構測量和分析，提供XAFS和XES兩種測量模式，并輕松相互切換。以極高的靈敏度和光源質量，廣泛應用在催化、電池等研究領域，實現對元素的測定、定量和價態分析等。

XAFS/XES 產品優勢：

無需同步輻射光源；科研級別譜圖效果；

臺式設計，實驗室內使用；

可外接儀器設備，控制樣品條件；

可實現多個樣品或多種條件測試；

操作便捷、維護成本低。