SE-VE采用光譜橢偏測量技術緊湊集成化設計思路，一鍵快速測量分析，極致便捷用戶操作體驗，可用于各種微納米級光學薄膜快速測量表征。

1、緊湊集成化設計，輕便、體積小

2、超快測量時間，單點測量時間0.5-5s

3、軟件簡約設計，極致用戶操作體驗

4、一鍵快速測量分析，人機交互設計，使用便捷

5、豐富的材料數據庫和算法模型庫