×
展商搜索
展位號:K26
地址: 北京市海淀區雙清路1號院內長興樓2層205室
網址: http://www.peakscience.cn
納米X射線顯微鏡-SEM掃描電子顯微鏡聯用系統
CT-Nano是第一款商業化的SEM-CT聯用系統,適用SEM可以進行0.7納米的表面形貌分析及其他SEM表征。同一系統能進行實際空間分辨率達60nm的CT三維重構分析。是材料科學研究的又一得力工具。
如果您已預登記,請直接 觀眾登錄
如果您未預登記,請進行 觀眾預登記