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展位號：K26
地址： 北京市海淀區雙清路1號院內長興樓2層205室
網址： http://www.peakscience.cn
光致發光顯微測試系統
共聚焦顯微設計，具有衍射極限的空間分辨率；
模塊化設計，兼容多種測試方法；
TRPL時間分辨光致發光熒光壽命成像FLIM分析；
Raman分析功能；
AFM分析模塊功能。
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