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展位號：K26
地址： 北京市海淀區雙清路1號院內長興樓2層205室
網址： http://www.peakscience.cn
納米探針測試臺
專利的納米探針制作技術，探針間距可小于500nm, 能對微納器件和薄膜的電學參數進行精密測試。并可與光學顯微鏡和SEM兼容進行測試。
多種規格的陣列納米探針可選。
集成XYZ精密調節臺。
可集成源表及軟件進行表面電阻，CV，IV測試。
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