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展位號:F18
地址: 中國(上海)自由貿易試驗區美約路60號
網址: http://www.zeiss.com.cn/microscopy
Axioscope 5 正置顯微鏡
材料的微觀結構表征,如金屬材料微觀組織分析,PCB切片的分析,半導體芯片微尺寸測量,地質切片的觀察等。
相比于同類顯微鏡其出色的用途多樣性和先進的自動化功能,憑借編碼組件和先進的光學管理,Axioscope提供值得信賴的可重復結果。
特別適合于對數據質量和可重復性要求較高的常規工作,它還善于進行材料科學研究中的高級光學顯微分析。
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