蔡司Xradia CrystalCT作為首款實現無損衍射襯度斷層掃描（DCT）成像功能的微米CT系統，能同時獲得樣品的三維晶體學信息和基于吸收襯度的高分辨率三維成像數據，可為工業和科研實驗室實現各種金屬和合金、增材制造、陶瓷和藥物樣品等多晶材料的三維晶體學成像提供解決方案。

通過最新的高級數據采集模式，Xradia CrystalCT可實現大樣品體區域的無縫數據采集，提高了采集速度和減少了樣品準備時間。與傳統的破壞性三維晶體學成像方法相比，大體積的無損晶粒成像大幅提高了實驗數據體的代表性。